產品概述

徠卡DM2700M金相顯微鏡產品介紹

Leica DM2700 M - New Materials Microscope with LED Illumination
Published: 11.02.13
徠卡DM2700M理想的例行檢查任務，金相，地球科學，調查，材料質量控制和研究各種顯微鏡。
新材料顯微鏡徠卡DM2700M來自徠卡顯微系統是理想的顯微鏡，各種例行檢查任務，金相，地球科學，調查，材料質量控制和研究。它為用戶提供了*設備，*的通用白光LED照明用高品質的徠卡光學鏡頭。
超高亮度，高功率LED照明，為用戶提供一個恒定色溫4500K明場，暗場，干涉相襯和偏光。此外，內置的斜照明技術，用戶可以體驗到更好的表面檢查細節。真彩色成像，可以得到所有的亮度強度水平和更低的擁有成本實現長壽命，低功耗的LED照明技術。
直立材料顯微鏡通用LED照明
該材料顯微鏡結合了高品質的徠卡光學與國家的*的通用白光LED照明。它是理想的檢測工具，用于各種例行檢查任務，金相，地球科學，調查，材料質量控制和研究。徠卡DM2700 M顯示你如何簡單而可靠的顯微鏡可以同時幫助改善工作流程。

徠卡DM2700M金相顯微鏡的詳細介紹:
結構簡單，使用可靠：
以較好的光照強度觀察材料組織
在好的光照強度下觀察材料組織。通用白光（4500K）LED照明裝置與*的高品質徠卡光學裝置*匹配，打造出理想的質量評估和檢測工具。徠卡DM2700 M金相顯微鏡代表了簡單可靠的顯微鏡設計，改善您的工作流程，把精力集中在工作上。

>成像
>使用可靠
>操作靈活
>記錄方便

LED照明，一鍵觸發*照明
適用各類工業用途的通用顯微鏡照明裝置
>白光，色溫恒定
>真彩色成像
>*無需調整
>使用壽命長達20年

LED照明-*光源
高亮度，大功率LED照明裝置
4500K恒定色溫
所有亮度水平下都能夠實現真彩色成像
更長的使用壽命（35000小時），按8小時/天計算，相當于使用壽命為20年
自由調節
*維護時間（更換燈泡）
適用于明場、暗場、微分干涉、偏光和斜射照明
不產生熱量
光照強度高于100瓦鹵素燈

值得信賴的成像
光學部件
光學性能決定顯微鏡的質量性能。當今的數字時代依然如此。徠卡顯微系統品牌始終代表著光學性能的高標準。徠卡顯微鏡的物鏡不僅具有創新性，且具有較高的成本效益，它始終提供高對比度和銳化的圖像，這毫不遜色于通過目鏡和數碼鏡頭所捕捉的圖像。徠卡顯微鏡能夠將具有鮮明對比度和銳化的圖像與高分辨率視場和優化圖像視場結合起來。無論工作需求是多么的苛刻，徠卡顯微系統總能提供經濟的解決方案。

值得信賴使用可靠
我們專注于顯微鏡操作
我們在Leica DM2700 M顯微鏡的設計中融入了便于理解操作的功能設計。使您能夠專注于自己的工作，而不是把精力耗費在設備調整上。

優勢
徠卡彩色編碼物鏡與孔徑光圈的*結合成就了彩色編碼光圈輔助裝置（CCDA）。使用彩色編碼光圈輔助裝置后，顯微鏡分辨率、對比度以及景深的基本設置工作變得簡單便捷。適用于臨風間焦距粗調、微調以及超精細調整的嵌入式調焦止動裝置、高度可調節對焦旋鈕以及三齒輪式對焦機構使Leica DM2700 M顯微鏡的操作更為可靠持久，同時也使其更加便于日常使用。在降低操作失誤的同時還能夠顯著加快你的工作進度。*的簡單手動調節顯微鏡，設備操作過程中，絕不會出現任何性能和功能打折扣的情況。Leica DM2700 M顯微鏡可靠、持久以及高品質的人機工程學設計使其操作更為簡單并能夠大大提高用戶的操作舒適程度。

靈活性意味著節省成本
適用于所樣本的多功能產品
Leica DM2700 M為適用于明場、暗場、微分干涉、偏光以及熒光用途的多功能立式顯微系統。除了所有入射光用途之外，Leica DM2700 M同時還適用于所有配置透射光的用途。

物鏡轉盤
具有三個可選的物鏡轉盤BF/DF M32顯微鏡鏡鼻可裝配多達五個物鏡，而BF/FLUO則可配置多達六個或者七個物鏡。
每個場合，靈活適合
可選用于尺寸至100*100毫米的樣本-例如金屬薄片，半導體薄片或者印刷電路板，厚度可達80毫米，例如機械加工部件，可利用綜合測試程序進行監測。
始終保持對樣本的觀察
Macro宏觀物鏡能夠使你一眼即可看到40毫米的樣本。也成為你進行快速定位和綜述文檔的理想工具。

簡化文件記錄過程
圖像記錄、保存和檢索
適用于反射光用途的徠卡數碼攝像機與徠卡應用套件中的圖像采集和歸檔軟件功能的結合，能夠確保檢測結果方便有效地保存。
能夠實現材料數據快速精準地分析
Leica Steel Expert,Phase & grain Expert,以及Cleanliness Expert均為能夠提供高品質解決方案的專業軟件包，這些軟件包尤其是適用于要求樣本處理以及自動運行操作的環境。由于采用了模塊化結構，其功能涵蓋從簡單、互動到自動攝影測量；例如標明金屬表面特征或者進行離子分析。